О РЕЛАКСАЦИИ ВНУТРЕННИХ МЕХАНИЧЕСКИХ НАПРЯЖЕНИЙ В СТРУКТУРАХ МЕТАЛЛ-GaAs
##plugins.themes.bootstrap3.article.main##
Аннотация
Развитие полупроводниковой сверхвысокочастотной (СВЧ) электроники и интегральных микросхем с применением полупроводниковых приборов с барьером Шоттки на основе А3В5 является одной из причин детального исследования электрофизических свойств этих приборов при внешних воздействиях )температура, сильные электрические и магнитные поля, ионизирующая радиация, микроволновое излучение, лазерное излучение, различные виды термообработок и др.).
##plugins.themes.bootstrap3.article.details##
Как цитировать
Камалов, А., Жалелова, К., & Жуманазаров , А. (2011). О РЕЛАКСАЦИИ ВНУТРЕННИХ МЕХАНИЧЕСКИХ НАПРЯЖЕНИЙ В СТРУКТУРАХ МЕТАЛЛ-GaAs. ВЕСТНИК КАРАКАЛПАКСКОГО ГОСУДАРСТВЕННОГО УНИВЕРСИТЕТА ИМЕНИ БЕРДАХА, 13(3-4), 18–20. извлечено от https://science.karsu.uz/index.php/science/article/view/131
Раздел
Статьи
Это произведение доступно по лицензии Creative Commons «Attribution» («Атрибуция») 4.0 Всемирная.